奧影科普 | 探測器像素分辨率能力測試：雙絲像質(zhì)計

在此前介紹空間分辨率的文章中我們曾科普過，影響空間分辨率的主要因素有：射線源焦點尺寸、探測器孔徑（探元像素）尺寸、工業(yè)CT設(shè)備平臺的幾何放大倍數(shù)、重建算法等。射線源焦點尺寸通常使用JIMA 卡檢測，而探測器的像素分辨能力檢測測試，則需要使用另一個工具——雙絲像質(zhì)計。

分辨率（力）指標(biāo)通常是以單位長度上可分辨兩個相鄰細(xì)節(jié)間最小距離來測定。它受幾何不清晰度和固有不清晰度的綜合影響。幾何不清晰度與焦點尺寸和放大倍數(shù)密切相關(guān)，當(dāng)焦點尺寸較小且放大倍數(shù)適當(dāng)時，圖像中的細(xì)節(jié)能夠更為清晰地呈現(xiàn)。而固有不清晰度則主要由探測器的像素尺寸決定，像素尺寸越小，探測器捕捉到的圖像細(xì)節(jié)就越多，圖像的分辨率也相應(yīng)的越高。

一、什么是雙絲像質(zhì)計

二、雙絲像質(zhì)計的使用方法

在使用雙絲像質(zhì)計時，應(yīng)將其置于被檢物體的源側(cè)，并盡可能地靠近射線束軸線，以確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。其金屬絲與數(shù)字圖像的行或列傾斜角度應(yīng)為2°到5°。

使用雙絲像質(zhì)計評估數(shù)字圖像的質(zhì)量，通過調(diào)整系統(tǒng)到較優(yōu)圖像成像狀態(tài)，掃描獲得DR圖像，包括調(diào)整系統(tǒng)的放大倍數(shù)和射線源的焦點尺寸到適合的狀態(tài)（保證穿透工件的同時，確保圖像曝光充足），通過對DR圖像來評判細(xì)絲之間的干涉條紋不再清晰可見，從而確定分辨率。

實際檢測區(qū)分絲對能否清晰，一般不是用肉眼直接再圖像上判定，而是利用數(shù)字射線設(shè)備自帶的符合標(biāo)準(zhǔn)的軟件進(jìn)行測量。測量得到的首對雙峰調(diào)制度值小于20%的絲對，其絲對尺寸則代表了探測器在一定放大倍數(shù)下數(shù)字圖像中可分辨的最小幾何尺寸。例如下圖這個案例中D12雙絲線對直徑即為該圖像的分辨力值。